Ardyansyah, Mochamad Rizky Bintang (2025) ALAT UJI KARAKTERISTIK TRANSISTOR SECARA OTOMATIS BERBASIS MIKROKONTROLER ESP-32 DAN ANTARMUKA DELPHI MELALUI JARINGAN WIFI. Undergraduate thesis, Universitas Diponegoro.

	Text S_TRO_Mochamad Rizky Bintang A.pdf - Published Version Restricted to Repository staff only Download (8MB) | Request a copy
	Text S_TRO_Mochamad Rizky Bintang A_COVER.pdf - Published Version Download (1MB)
	Text S_TRO_Mochamad Rizky Bintang A_BAB I.pdf - Published Version Download (11kB)
	Text S_TRO_Mochamad Rizky Bintang A_BAB II.pdf - Published Version Download (237kB)
	Text S_TRO_Mochamad Rizky Bintang A_BAB III.pdf - Published Version Restricted to Repository staff only Download (332kB) | Request a copy
	Text S_TRO_Mochamad Rizky Bintang A_BAB IV.pdf - Published Version Download (489kB)
	Text S_TRO_Mochamad Rizky Bintang A_BAB V.pdf - Published Version Download (4kB)
	Text S_TRO_Mochamad Rizky Bintang A_DAPUS.pdf - Published Version Download (124kB)
	Text S_TRO_Mochamad Rizky Bintang A_LAMPIRAN.pdf - Published Version Restricted to Repository staff only Download (6MB) | Request a copy

Abstract

Transistor adalah komponen elektronik yang sangat penting dalam berbagai
aplikasi elektronika, mulai dari penguatan sinyal hingga pengaturan daya pada
rangkaian. Salah satu cara untuk mengetahui performa transistor adalah dengan
menguji karakteristiknya, seperti karakteristik arus-tegangan (I-V) pada terminal
emitor, basis, dan kolektor. Karakteristik I-V (Arus-Tegangan): Pengujian ini
dilakukan dengan mengubah tegangan pada basis atau kolektor dan mengukur arus
yang mengalir pada transistor. Dengan cara ini, diperoleh kurva karakteristik yang
menunjukkan bagaimana transistor merespon perubahan tegangan pada kondisi
tertentu. Pembuatan rancang bangun alat uji karakterisasi transistor bipolar NPN
telah berhasil dilakukan dengan menggunakan aplikasi Delphi melalui jaringan
WiFi dengan mikrokontroler ESP32 sebagai akses point. Grafik uji karakterisasi
transistor untuk kurva Vce dan Ic dapat diperoleh melalui pengujian transistor
bipolar NPN, serta beberapa komponen data seperti Vcc, Vce, Ic, Ib, Vbb dan Vbe
juga telah berhasil dicatat dan dapat disimpan untuk diolah lebih lanjut.
Kata Kunci: Karakteristik Transistor Tipe NPN, Grafik Uji Karakteristik
Transistor Tipe NPN, Mikrokontroler ESP32, Kontrol ESP32 dengan Antarmuka
Delphi.

Actions (login required)

View Item